一、產(chǎn)品介紹：
       WXS-8 四探針電阻測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途寬量程綜合測量設(shè)備, 同時(shí)也是電阻率測試儀、電導(dǎo)率測試儀.

該儀器是按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，可用于測試半導(dǎo)體及其他各種材料電阻率及方塊電阻的專用儀器。儀器運(yùn)用雙電測原理，進(jìn)行多次測量，自動(dòng)消減樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測相比，大大提高測量精度和一致性。

儀器選配 U盤數(shù)據(jù)記錄接口，可方便的進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的記錄；標(biāo)配USB接口和RS232接口可與電腦相連接；電腦配套操作軟件可以方便直觀的直接對儀器進(jìn)行全功能操作、并記錄數(shù)據(jù),方便對材料進(jìn)行電氣分析。儀器測量精度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、操作簡單、測試結(jié)果顯示直觀，廣泛運(yùn)用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校等對各種半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料、導(dǎo)體材料及各種新材料的導(dǎo)電性能的測試。
二、適用范圍：
       適用于片狀或塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層、太陽能等材料的測試.配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層材料的電阻率/方阻.也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻. 

三、產(chǎn)品描述:

       電阻測試范圍:100uΩ-100KΩ;方阻測試范圍: 100uΩ/□-100KΩ/□; 電阻率測試范圍取決于電阻測試范圍及被測件尺寸.